Как умирает EEPROM память?
Вставка
- Опубліковано 26 кві 2024
- Поддержать канал на Boosty: boosty.to/electronics_in_focus
Поддержать канал на Patreon: / electronics_in_focus
instagram: / electronics_in_focus
telegram: t.me/electronicsinfocus_official
vk: electronics_in_camera
Распределение ошибок по байтам тестовой страницы (сделано после публикации видео): docs.google.com/spreadsheets/...
Код приложения для Flipper Zero: github.com/rnadyrshin/flipper...
Мой логический анализатор (16-канальная копия Seleae Logic): fas.st/BPupwK
Flipper Zero:
1) Официальный сайт: flipperzero.one/
2) Мой обзор: • Flipper Zero. Тамагочи...
Ссылки на микросхемы EEPROM:
1) XBLW 24C64BN: www.lcsc.com/product-detail/E...
2) HK HK24C64: www.lcsc.com/product-detail/E...
3) FMD FT24C64A-TSR-T: www.lcsc.com/product-detail/E...
4) Slkor SL24C64D: www.lcsc.com/product-detail/E...
5) IDCHIP AT24C64: www.lcsc.com/product-detail/E...
6) BL BL24C64A-PARC: www.lcsc.com/product-detail/E...
7) STM M24C64-RMN6TP: www.lcsc.com/product-detail/E...
8) HANSCHIP HX24C64DRG: www.lcsc.com/product-detail/E...
9) Zetta ZD24C64A-SSGMT: www.lcsc.com/product-detail/E...
10) HXY MOSFET AT24C64-HXY: www.lcsc.com/product-detail/E...
11) HGSEMI AT24LC64M/TR: www.lcsc.com/product-detail/E...
12) FUDAN MICRO FM24C64D-SO-T-G: www.lcsc.com/product-detail/E...
13) ROHM BR24T64FJ-WE2: www.lcsc.com/product-detail/E...
14) Microchip AT24C64D-SSHM-T: www.lcsc.com/product-detail/E...
15) Holtek HT24LC64: www.lcsc.com/product-detail/E...
Содержание этого ролика:
00:00:00 Вступление
00:00:35 Участники теста
00:02:09 Тестовый стенд
00:09:28 Как умирает EEPROM?
00:14:50 Что с ресурсом?
00:21:01 Итоги
00:22:44 Проводки - Наука та технологія
Сразу отвечаю на 2 самых популярных вопроса:
1. Как заказать на LCSC в Россию, Беларусь, Украину?
- Я не знаю
2. Как и где купить Flipper Zero?
- Я не знаю
Думаю, что в обоих случаях гугл поможет
ПОВСЕМЕСТНЫЕ БУРЭНДЫ КАК ВИНБОНД И МАКРОНИКС, ОДНАКО, НЕ РАССМОТРЕНЫ.
@@user-zx5mo1zf9v ... может это потому что они не делают i2c eeprom??
ну и зачем было выбирать для теста 24 серию в таком случае?
@@sleeply4cat ??
ну, кайнд оф зачем было выбирать для теста i2c eeprom, который в основном юзают как конфигурационные рид-онли штуки, а не гораздо более популярный spi
Классно что есть такие люди кто готов проводить такие долгие серьёзные тесты 👍
EEPROM умереть не может: он всегда будет жить в наших сердцах!
Но мы будем помнить...
Пока живы мы ,будет жить и EEPROM, в наших сердцах🥺🕯️🪦))
EEPROM - жил,
EEPROM - жив,
EEPROM - будет жить😂
"Шить"
А как же nand xD
Где-то встречал статью про ремонт магнитолки - систематически дохли ЕЕПРомки. При анализе причины выяснилось, что заводская прошивка записывает уровень громкости при каждом шаге энкодера. В итоге за год-два ресурс памяти вырабатывался полностью
Ауди концерт. Записывала каждый щелчок энкодера в eeprom, программисты думали, что eeprom бессмертная 😊
На первых этапах дефект можно было вылечить прожаркой контроллера в духовке или самый простой - установкой лампы для нагрева контроллера.
Хоть и считается, что нагрев сокращает ресурс eeprom, но живые эксперименты с магнитолой показывают положительный результат, ресурс можно увеличить до года.
Да, это известная правдивая байка из прошлого. Иногда приписывают её разным производителям магнитол, но это действительный факт был, программист ошибся с выбором типа памяти и переменная положения энкодера писалась в еепром вместо озу.
Сейчас так дохнут телевизоры, видюхи и материнки
И дело уже не в ресурсе, а в утекании заряда
В видюхах например записывать кроме прошивки нечего, но все равно у какого-то процента покупателей через год просто слетает прошивка и видюха дохнет на ровном месте
@@CAMOKATBETEPAHA это не байка, у меня и процессора эти есть с конченными ячейками 😊
@@radioremont я не говорил, что это не правда. Это правдивых случай помоему с форума магнитол лохматых годов, то ли магнитола.орг то ли мониторнет.ру которая уже обросла байками. Там был анализ данных записи памяти и при вращении энкодера долбило ячейку. Эта тема с форума быстро разошлась по интернету по форумам паяльщиков и обросла байками.
Руслан, твой подход к тестам - это нечто! Очень благодарен за это видео!
Научный подход.
а кто такой руслан?
Вот это реально полезные тесты, ребята давайте накидайте пальцев под видео, человек 2 месяца потратил на это. Заслуживает уважения, ещё раз спасибо.
Нет. Он гланды через жо₽у удалял.
На самом деле память тестируют шахматкой, записывая 0х55, и 0хАА. Это позволяет создать наихудшие условия, в том числе повышает ликедж между ячейками, потому что ноль возле единицы и наоборот
Какой именно тип памяти так тестируют?
утечка, а не ликедж🥴
@@rnadyrshin эмм, любой?
@@rnadyrshin 7:55
Принцип работы:
1. Микросхема принимает 32 байта данных от микроконтроллёра во внутренний буфер ОЗУ (32 байта размер страницы).
2. Стирает нужную страницу записью единиц (32 байта 0xFF).
3. Запись из внутреннего буфера ОЗУ в очищенную страницу.
Внутренняя верификация записанных данных микросхемой не производится.
Нужно поочерёдно записывать:
1. Заполнить страницу 0x55, проверить;
2. Заполнить страницу 0xAA, проверить.
Будет равномерный износ битов во всей странице.
Можно было бы ограничиться записью в страницу только нулей (0x00) с последущей проверкой, но неизвестно, производится ли инвертирование записываемых данных или нет.
Можно поочерёдно заполнить страницу шахматкой: 0x55AA, затем 0xAA55, тогда на состояние неустойчивого бита будет влияние из соседних байтов.
@@rnadyrshin Это так тестировали DRAM врёмен микросхем 4116, 4164 (К565РУ5, К565РУ7) . Паттерны использовались не только 0x55 и 0xAA, но и сдвигающиеся биты единиц, нулей и проч, в разные адреса записывали разное и вообще кто на что горазд. Это легко установить если скачать тест и запустить его на эмуляторе, или посмотреть тесты MemTest86, Memtest+. У EEPROM принципиально иная технология хранения, записи и чтения битовых ячеек, неизвестно как тут поможет паттернирование. Деградация ячейки происходит при ее стирании. Предпочитают говорить о "charge trap", дескать электрон более не уходит с плавающего затвора.
О, помню ОЛЕД экранчики жгли, теперь ЕЕПРОМки.. Интересные и длительные тесты!
Было бы неплохо еще и посмотреть реальную зависимость ресурса EEPROM от температуры эксплуатации
И питания. У меня в мониторе для пк с полу дохлыми конденсаторами умерла eeprom, и настройки монитора менялись сами по себе, меню глючило пока не отрезал ногу питания eeprom, теперь настройки не сохраняются, но хоть монитор работает
Спасибо! Реально очень полезное видео, также, как и с ресурсным тестом OLED экранов!
Очень большая работа! Спасибо!
Спасибо за проделанную работу. Очень интересно.
Практически ничего не понимаю в этом. Смотрел с перемотками. Но было интересно. В принципе, как я понял никакой воды. Возможно, и дальше буду смотреть ваши ролики. Оформление и подача материала очень и очень хороши. Благодарю.
Спасибо за интересный тест!
Круто! полезное видео. Всегда, при написании программ, проверяю чтобы eeprom записывалась при конкретном событии, а не в каждом цикле программы.
Очень познавательно. Неоднократно видел проблемные микросхемы памяти в очень дорогих устройствах, например профессиональные фотоаппараты, муз оборудование. Я всегда очень злился, почему завод не тестировал микросхемы ОЗУ и ПЗУ циклами записи-чтения (это же так просто сделать служебную функцию в прошивке и простейший мемтест+ стресс-тест процессора минут на 40-час? чтобы все шары Bga прогрелись и если где-то отходит контакт-он бы проявился) перед установкой в устройство и продажи его за несколько тысяч долларов!
Иногда была ошибка в ПО, например при записи нового трека прошивка не понимала что пустое место закончилось и записывала поверх служебных данных. Но это уже не относится к проблеме самих чипов, хотя н-р более грамотная архитектура могла бы разделить микросхему для основной прошивки и для данных и сделать их с планарными выводами для простой замены паяльным феном. и н-р сделать отдельный чип с калибровками, чтобы его можно было просто перенести на донорскую плату в случае гибели основной и не мучится.
очень часто встречалась битая оперативная память, распаянная в устройствах, причём подлость такой проблемы что проявляется она часто редкими глюками через определенное время или при вызове определенных функций (например загрузке новых данных или выборе каких-то режимов, где заполняется буфер), а при попытке прошить такое устройство из-за ошибок в контрольных суммах в ОЗУ повреждается и ПЗУ и настоящая боль не только найти распиновку JTAG но и слить-собрать рабочий дамп, особенно если всё на BGA пайке. Решениеv станет проверка контрольных сумм после полной распаковки в память ли как по-умному сделано в некоторых прошивальщиках биоса, там дуал-биос-то есть основной и резервный и небольшими блоками перезаписываются по очереди причём со считываем записанного и сверкой после каждого блока. Такой прошивке не страшно даже экстренная потеря питания. Это как делать, если по умном, в своих устройствах.
совет разработчикам-делайте стенд тестирования электронных плат своих устройств, минимум пару суток с повышенной температурой и влажностью, минимум 300-400 циклов проверки всех микросхем оперативной и постоянной памяти. разрабатывайте тесты мемтест для проверки, лучше встроенные с запуском комбинацией кнопок.
иные проблемы из опыта:
Дешевый некачественный текстолит тонкий, плохой припой BGA , неотмытый активный флюс, непропай под шарами в следствии несоблюдение температуры или некачественного флюса, завышенные напряжения питания-всё это приводит к глюкам и быстрой деградации... просчёты по охлаждению чувствительных к малейшему перегреву компонентов, BGA с краю платы где она изгибается... как Vik On неоднократно показывал в современных видеокартах. наверное книгу можно написать про косяки как не надо разрабатывать...
_совет разработчикам-делайте стенд тестирования электронных плат своих устройств, минимум пару суток с повышенной температурой и влажностью, минимум 300-400 циклов проверки всех микросхем оперативной и постоянной памяти. разрабатывайте тесты мемтест для проверки, лучше встроенные с запуском комбинацией кнопок._
Зачем это им? Проблема у частных потребителей может не проявиться в принципе из-за низкой частоты использования (потому-то все эти предупреждения в инструкциях "не предназначено для профессиональной работы"); может проявиться по окончании гарантийного срока; может возникнуть вообще по окончании срока службы (тоже с не очень далёкой поры обязательное условие информирования потребителя). В каждом из этих случаев -- товар продан, при этом сэкономлены "минимум пара суток", "минимум 300-400 циклов" и т.п. по вашему тексту, а это и оборудование, и трудо- и энергозатраты. Сложно представить себе производство, скажем, тех же фотоаппаратов, которые выпускаются сотнями в день, с двумя-тремя сотнями испытательных стендов (чтобы обеспечить тот самый "минимум пару суток" тестирования). Это всё только существенно увеличивает себестоимость продукции, не давая практически никаких преимуществ в дальнейшей эксплуатации.
Если же глюки у конкретного потребителя выявятся в период гарантии (а это, может один случай на тысячу, а то и десять/сто тысяч), то этому конкретному потребителю можно подарить оплату работы мастера или даже полную замену товара. Вот его, кстати, после возврата производителю можно поместить на такой стенд, чтобы определить причину поломки и заменить неисправный компонент. И продать как новый.
Это через ваши руки проходят сотни поломанных девайсов, вы их видите, и поэтому так рассуждаете. А сколько сотен тысяч таких же девайсов просто работают на радость хозяевам, не попадая в ремонт? Сие неведомая тайна есть.
Я уж молчу о том, что подрастает уже второе поколение "общества потребления", в котором ценность товара представляет не его надёжность на протяжении 25 лет, а "модность", "актуальность" или какие-то совершенно посторонние потребительские качества (как, например, количество мегапикселов камеры в телефоне или обновление прошивки "мозгов" авто во время ожидания на светофоре). Подавляющее большинство устройств (даже очень дорогих, типа тех же фотоаппаратов) меняются людьми чуть реже, чем носки. К чему все эти "заморочки" с глубоким тестированием каждого экземпляра?
Вот и вся экономика.
@@theMerzavets Ещё просьба автору. Проверьте. возможно ли вычитать поврежденную микросхему путём её нагрева, охлаждения. заморозки итд. Иногда критически важно вычитать дамп с поврежденной микросхемы для дальнейшей правки руками или например из всего дампа важны пару разделов с калибровками. Сделайте такой эксперимент
@@theMerzavets наверное стоит переходить на качественно другой финансовый уровень, чтобы так легко менять дорогостоящие вещи и сменить старую тойоту на новенькую Ауди, которую непременно придётся менять через 2-3 года. просто потому. что всё начнёт в ней сыпаться. Я ещё и дизайнер, я люблю красивые вещи, но когда по технике они г-вно меня это гложит
Спасибо, познавательно!
Отлично проведённые тесты.
Спасибо. Очень интересно и качественно сделан тест.
Спасибо за работу.
Отличный тест, с нетерпением жду такой же для SPI NOR-flash в SO8.
как всегда ваши тесты огонь!)
Огромное спасибо за такие тесты - С меня Like и подписка.
Побольше бы таких тестов.
Великолепное видео!
Большое спасибо, что поделились такой ценной информацией!
Причем даже для тех кто вообще не шарит интересно такое посмотреть чисто ради контента)
Очень интересно 🤝
Отличная работа! Действительно эксклюзивная работа проведена и оформлен контент очень качественно! По больше бы такого материала в интернете как ваш. Так держать!
Спасибо за ролик, интересно.
Интересный тест ) Но проблема еще в том, что у поюзаных ячеек сильно портится retention, заряд начинает утекать в покое. Т.е. записав весь объем 2млн раз, и положив чип в печку на +85° на месяц - ошибки будут на порядок раньше. И видимо часть микросхем даже не выжмет паспортный миллион.
По настоящему грамотный комментарий. Автор видео забыл, что функция EEPROM не только в том чтобы записывать и считывать данные, но также и в том чтобы хранить их продолжительное время.
Странно, я конечно не спец, но не для хранения ли микропрограмм(прошивок) данный тип памяти(пзу) используется. Возникает вопрос , нафига в неё постоянно что либо записывать? Как там со стираемыми ультрафиолетом пзу?
@@JohnFord8310 Например, есть крутелка ручки громкости на энкодере. Когда человек покрутит - записываем значение в eeprom чтобы не сбрасывалось. Или шаговый двигатель, запоминающий положение между выключениями... Приходится постоянно писать.
@@BarsMonster современные SSD (имеющие RAM кэш) по сигналу пропадания питания начинают этот кэш переписывать в NAND. Таким образом, небольшого конденсатора хватает, чтобы решить проблему пропадания данных.
Организовать такую схему при желании не составляет труда
@@user-lz2mu9uq4eЯ как раз о том, что из потрепанных NAND/EEPROM ячеек заряд утекает. Т.е. сам флеш/eeprom не вечно хранит данные. И потрепанный флеш - очень и очень невечно. После миллиона циклов - при +85°С может и дня не продержаться без ошибок.
Мега качественное видео, спасибо!
Классное видео. Очень интересное и полезное исследование. Спасибо!
Спасибо.
Полезно.
Большая работа, интересно было посмотреть
Спасибо огромнейшее. Очень полезная практическая информация. Подача материала на высшем уровне.
Спасибо большое за видео!!!
👍 серьёзный тест!
Да, было интересно.
Для ускорения теста стоило подключать несколько микросхем одновременно.
Браво! Настоящая научная работа! Имеет огромное практическое значение! Регулярно сталкиваюсь. Перешел полностью на sd карты!
SD-карты, у которых ресурс в 10 раз ниже?
Хорошая работа, нужная. Лайк однозначно.
Отлично! Спасибо за полезное видео!
Ещё было бы наглядно сделать график цена/кол-во записей - посмотреть оптимальные варианты
Мало кто слышал про FRAM, та, что "ферритовая". Она по ногам совместима с еепром 24й серии, только вечная. ОВЕН в свои старшие модели контроллеров её уже серийно применяет.
Год назад разбирал счётчик, изготовленный в России в 2005 году. Там как раз использовалась FRAM память в корпусе SOP-8.
а маркировку FRAM, совместимых по ногам - не подскажете?
Прошу прощения, но вы путаете EEPROM и FRAM (FeRAM), которой планировали или еще планируют заменить DRAM, NAND, но не EEPROM. У Texas Instruments был опыт выпуска МК MSP430 серии с FRAM в качестве Flash, но широкого распространения также не получилось. Видимо, что было невыгодно с экономической точки зрения.
@@Al.Sy. Разбирал старый счетчик топлива АЗС, который еще в 1998 году был сделан. И там уже была FRAM память
Да, было бы неплохо ее протестировать, фрамку...
Спасибо, вот это да! Классно, что вы сохранили интерес к такой деятельности, а не послали всё по бороде. Кста, была раньше память FRAM от Ramtron, вроде бесконечная и лучшая была (20 лет назад).
она еще есть
Мы используем лет 10 Fram в приборах. Но.. чипы с небольшим объёмом, 8-16 кб. ;)
И не в качестве альтернативы EEPROM, которое в изделиях тоже обычно есть.
А Fram больших объёмов - слишком жирно.
классные у вас видео! спасибо
Все коротко, ясно и без воды
Вот почему на 20летних авто системы IMMO сбоить начинают(слёт синхры, ключей..).. А сейчас повально все автопроизводителе начали размещять ECU в подкапотном пространстве. Значит ресурс будет ещё меньше с учётом повышеной температуры. И наверно количество циклов монтаж-демонтаж тоже здоровья еепромкам не добавляют...
Думаете IMMO часто пишет в EEPROM? Есть еще одна вероятная причина - запись во время нестабильного питания
@@rnadyrshin с так называемвм роллинг кодом, каждое включение зажигания. Даа про плохие клеммы в момент запуска реноводам особенно хорошо извесно, или медлннная в ноль разрядка АКБ
фундаментальный вклад в анализ надёжности схем памяти 👍
Ура! Ещё есть люди, которые продолжают записывать хорошие и полезные видосы.
Отлично организованное исследование с грамотно интерпретированными результатами! Респект!
А проанализировать взаимосвязь между временем записи и живучестью микросхемы можно было посчитав коэффициент корреляции и отобразив точки на графике (вправо - время записи, вверх - живучесть).
Крутой контент! Топчик! Все ёмко и конкретно.
Ура вернулся!
Спасибо, актуально.
Спасибо что ты есть)
Очень интересно!
Отличное видео, спасибо автору за его труды! У меня остался только один вопрос: влияет ли в итоге операция чтения на ресурс EEPROM или только запись?
Фундаментальное исследование! Жму руку! 🤝 Столько времени потратить на такой тест! Жирнющий лайк!
Жалко что ты не взял один экземпляр fram для "внештатного" сравнения. Вещь просто шикарная. Рад видеть очередной ролик.
Ураааа! Новое видео, канал существует)))
Руслан, твои тесты очень крутые. Красава 👍👍👍
Здравствуйте.
Очень нравится формат ресурсных испытаний.
Ну и типа добить те "заветные 10 слов".
Спасибо. Может пригодится.
Руслан ты красавчик, ас и профи своего дела слушая тебя даже забываешь моргать,
Мощную работу проделал. Вроде и знаешь что ресурс памяти ограничен количество записи, но теперь буду аккуратнее
Не верный подход к определению ресурса. Надежность зависит не только от количества циклов записи, но и от способности длительное время в статике хранить заряд и не допускать при этом ошибок. Количество циклов записи не связано пропорционально с вероятностью преждевременного стекания заряда. И это проблема не только Eeprom.
Пожалуй, самый интересный канал об электронике. Автору уважение, за то, что затрагивает такие непопулярные, но очень интересные темы.
Я хоть и очень далёк от электроники, но мне очень интересно было посмотреть этот тест. Очень порадовал дотошный подход к тесту, а не просто количество записей в память пока оно не сгорит нафиг
Колоссальная, грамотно проделанная работа! Спасибо!
Самая большая проблема таких тестов, то что они НЕ тестируют ресурс. EEPROM содержит изолированный затвор в котором "запираются" электроны в момент записи. Проблема с износом в том, что при каждом стирании эта структура деградирует что приводит к повышенной утечке электронов. И в таком тесте всё будет чики поки - мы записали, тут же считали и всё хорошо, но хороши только потому, что у электронов не было времени "убежать" и только уже при очень сильном износе начинается то, что плавающий затвор не может совсем держать заряд. Если записать и оставить на день/неделю/месяц/год, то ошибки появятся и при меньшем количестве циклов записи, именно поэтому цифры в даташите и результат такого теста сильно отличается.
P.S. А теперь такой же тест с FRAM(MB85RC256V) пожалуйста! 😁
Прекрасный эксперимент, как и всегда. Было бы очень интересно увидеть сами чипы растворенных в кислоте микросхем от STM и HANSCHIP. Есть подозрение, что китайцы перепаковали/перемаркировали Б/У микросхемы ST, уж слишком похож ресурс и время записи.
толуол у Лисина - это к нему за вскрытиев
Вот это размах тестирования! Моё почтение.
Спасибо, нужная информация. Подскажите пож. какой телефон в ролике?
iPhone 15
Спасибо за проделанную работу. На практике сталкивался с износом памяти, дает интересные эффекты.
Ещё бы иметь анолизатор оставшегося ресурса EEPROM. Чтобы иметь возможность при ремонте узнать или предупредить износ памяти. Спасибо, очень познавательное видео.
Есть еще Ferroelectric RAM - тоже самое но только работает как флеш. Заявленный ресурс просто огромный. Можно найти полностью совместимую i2c, например FM24CL16B. Было бы интересно посмотреть на тесты такой памяти!
полезный контент спс
Тоже закупаюсь LCSC
Для экономии ресурса, в функцию запись/чтение, добавляют функцию проверки и сравнения значения перед записью (частенько выясняется, что и перезаписывать нет смысла, но это конечно редко в применение т.к. довольно специфично...
не просто как всегда красавчик
Проделана огромная работа.
Как всегда круто, спасибо
Спасибо, очень интересное исследование.
Лет 5 назад делал настольную лампу с регулировкой яркости и памятью последней яркости. Тоже голову ломал, как не затереть встроенную память контроллера до дыр. В итоге, делаю паузу секунд в 5 перед тем как записать знаяение. То есть жду, пока пользователь перестаёт крутить яркость.
Была ещё мысль придумать как то равномерный износ, но решил, что оно того не стоит))
Правильный адекватный подход с таймаутом.
У Макса Крюкова, в каком-то из старых роликов освещалось, как сделать равномерный износ памяти
Запись при отключении?
@@vadimchernushenko Нет, после последнего импульса энкодера.
Мы сделали по другому. Сделали мониторинг входного напряжения до стабилизатора напряжения микроконтроллера. Как питание выключили, так запоминаем все настройки. Обычного конденсатора хватает на эту операцию
Большую работу проделал, молодец.
Классное исследование, неплохо было бы выпустить вторую часть с исследованием ресурса микросхем при повышенной температуре
Отличный качественный тест! Давно было интересно, сколько они на самом деле выдерживают циклов записи.
Если в устройстве требуется часто писать в EERPOM, можно размазать запись на всю микросхему, организовав что-то вроде кольцевого буфера. Тогда эти миллионы записей можно умножить на количество страниц в микросхеме.
Еще можно заложить код коррекции ошибки на страницу.
@@user-ch76tcye4vvuu8 Если ошибка в одном бите, то да, сработает. Но ненадолго, т.к. через сколько то циклов и другие биты начнут отказывать.
Если же сразу много байт отваливаются как показано в ролике, то коды не помогут.
Если же размазывать запись равномерно по всем страницам, то количество циклов возрастает намного сильнее. На каждый килобайт памяти у нас в 32 раза больше циклов. То есть не 10 млн, а 320 млн циклов записи. Если добавить коды коррекции ошибок, то еще больше будет.
Это уже своя файловая система, и не мало разрабов так и делают. Эдкаий софтовый ССД-контоолеер
@@_vpruЕсли размер блоков записи постоянный, это гораздо проще чем файловая система. Я в изделии на 8051 и 24C08 делал именно кольцевую структуру, к каждому записанному блоку приписывал порядковый номер. При чтении просто искал блок с наибольшим номером. Заодно такой алгоритм поможет и от сбоев, если контрольная сумма найденного блока неправильная, используется предыдущий, то есть потеря не больше одного цикла.
Обзор, как всегда, на высоте. А какой анализатор уровней использовался ?
У меня 16-канальная копия Seleae Logic. Когда я его покупал, он стоил раза в 3 меньше, чем сейчас
fas.st/BPupwK
"Килобайт" сокращаённо записывается как "кБ" (большая "Б"); "кб" --- это "килобит".
Кстати, "к" --- приставка "кило-" --- всегда маленькая.
Да, есть соглашение, что "к-" --- это "1000", а "К-" --- это "1024", она же "ки-", но это нестандартная конвенция, потому что "K" в системе SI --- это кельвин, единица температуры.
Очень познавательное видео. Но, возможно, не бит становится сбойным - он просто отдаёт данные очень медленно и не вписывается в логику работы чипа, выходит за пределы временной диаграммы. По аналогии, у HDD хороший и сбойный сектор отличается очень большим разбросом по времени доступа (но в специальном режиме сбойные сектора можно прочитать). Не ясно наличие кодов коррекции в чипа и их уровень.
Если я правильно понял, то тестировалась только первая страница памяти. Но вероятность безотказной работы всей микросхемы будет равна произведению вероятностей одной страницы на количество страниц. Понятно, что значение не должно сильно разниться, предполагая одинаковое качество материала, но всё же тест неточный.
Вы затронули тему снижения ресурса при повышении температуры. Жаль, что не провели тест хотя бы одного чипа от каждого производителя. Было бы интересно сравнить
Новый видос 😳
Спасибо! Сейчас часто в ТВ стали умирать чипы памяти, теперь знаю от чего
В тв чипы памяти всегда часто помирали при неудачной с завода прошивке, когда оно перезаписывает ее часто, такая фигня еще лет 30 наза уже была , сколько этих епром поменяно, счету нет.
Ты крут, смотрю уже лет 5 твой ютуб, вроде ничего не понятно, но очень интересно, т.к. я более высокоуровневый программист (Java, PHP), ну и школа радиоэлектроники с детства, но все эти микроконтроллеры отдельный мир.
Доброго времени суток! Руслан, спасибо Вам за познавательной контент. Не могли бы разобрать тему OpenWRT? В одном из видео Вы говорили что прошили свой роутер Asus. Заранее благодарю!
EEPROM жил, EEPROM живёт, EEPROM будет жить!
Мне нравится идея Флиппера. Хочу такой корпус, поставить туда ESP32, и самому писать прошивки.
Давно задавался этим вопросом но в интернете нет информации
О как мне бы не помешал этот тест лет 20 назад.
Супер пример использования флиппера!
Это было наинтереснейшее исследование! Подход основательный.
Я думал меньше у них ресурс, а оно вон оно как оказалось.
спасибо. не чего не понятно, но очень интересно. 🤣 еще бы тесты spi flash 25 серии. эти то точно всем мозг вынесли😋
Хорошо что ожил. Мы, всё понимаем, спасибо! (кроватка, это нужно будущему)
Не выдержан режим тестирования. По сути затвор был 24/7 в состоянии работы и там протекали процессы диффузии и электромиграции, как бы вел себя завтвор при другом режиме работы. Формально у нас был линейный работы. Есть же отличие. Вообще не понял о чём тест, как показометр да. Кажется мне что плохое питание более актуальная проблема.
Распишите свою методику
@@rnadyrshin Я бы взял что-то из JESD22-A108 или приближенное к этому хотя бы примерно на сколько это возможно в домашних условиях.
Как вариант что-то AEC−Q100 и посмотреть разницу между обычной микросхемой и сертифицированной.