Carlos Inoki - Imagens de Defeitos em Cristais via Contraste de Difração

Aula ministrada por Carlos Inoki, pesquisador do Laboratório Nacional de Nanotecnologia (LNNano), durante o IV Curso Teórico-Prático de Microscopia Eletrônica de Transmissão, realizado pelo próprio LNNano. Versa
Nesta aula, Inoki explica aplicações das técnicas de difração de elétrons em Microscopia Eletrônica de Transmissão (TEM). Ele fala sobre como frangas de espessura, defeitos planares, dislocações e sobre o modo campo escuro em TEM.
Apresentação foi realizada no dia 12 de janeiro de 2012 no campus do Centro Nacional de Pesquisa em Energia e Materiais (CNPEM).
Mais informações: www.lnnano.org.br/cursomicroscopia.
---
Description: Lecture given by Carlos Inoki, Brazilian Nanotechnology National Laboratory (LNNano), during the IV Theoretical-Practical Course of Transmission Electron Microscopy, organized by the Brazilian Nanotechnology National Laboratory (LNNano).
Inoki talks about applications of electron diffraction techniques in Transmission Electron Microscopy (TEM). He speaks about thickness fringes, planar defects, dislocations and about dark field mode in TEM.
Presentation took place at the Brazilian Center for Research in Energy and Materials (CNPEM) on January 12th , 2012.
More information: www.lnnano.org.br/cursomicroscopia.