Strategies to Maximize Reusability of UVM Test Scenarios in SoC Verification

Поділитися
Вставка
  • Опубліковано 18 січ 2025
  • Presented at DVCon U.S. 2023
    Configuring UVM Session
    By: Hyeonman Park, Samsung Electronics; Namyoung Kim, Samsung Electronics; Kyoungmin Lee, Samsung Electronics
    dvcon.org
    dvcon-proceedi...

КОМЕНТАРІ •