Improving Functional Safety In Chips

Поділитися
Вставка
  • Опубліковано 1 лют 2025

КОМЕНТАРІ • 1

  • @vishaldhiman8582
    @vishaldhiman8582 4 роки тому

    Hi ,
    Can you please elaborate , How exactly this logic will capture the stuck at faults during shift/scan phase ?