Атомно-силовая микроскопия для исследования функциональных и смарт-материалов

NT-MDT Spectrum Instruments представляет запись вебинара, проведенного Ведущим специалистом по АСМ применениям, к.т.н. Леесментом Станиславом Игоревичем:
«Атомно-силовая микроскопия для исследования функциональных и смарт-материалов».
В рамках вебинара будут рассмотрены разнообразные приложения методов АСМ к исследованию морфологических, электрических, пьезомеханических и магнитных свойств смарт- и функциональных материалов.
Проведен обзор публикаций, сделанных в этой области ведущими научными группами за последние несколько лет.